آنالیز و مشخصهیابی
مشخصهیابی مواد باتری با XRD، SEM، BET، توزیع اندازه ذرات، TGA و ICP در کیمیا گوهر همراه با تفسیر دقیق نتایج توسط کارشناس متخصص.
جزئیات و مشخصات آنالیز و مشخصهیابی
مشخصهیابی مواد باتری با XRD، SEM، BET، توزیع اندازه ذرات، TGA و ICP در کیمیا گوهر همراه با تفسیر دقیق نتایج توسط کارشناس متخصص.
مشخصهیابی کامل مواد الکترود و اجزای سلول
کیفیت ماده فعال تنها با داده‌های الکتروشیمیایی اثبات نمی‌شود؛ مشخصهیابی ساختاری و شیمیایی، تصویر کامل را تکمیل می‌کند. پراش اشعه ایکس (XRD) فاز کریستالی، خلوص و با استفاده از رابطه شرر اندازه بلورک را تعیین می‌کند. میکروسکوپ الکترونی روبشی و عبوری (SEM/TEM) مورفولوژی ذرات و پوشش‌ها را در مقیاس میکرو و نانو نشان میدهد. توزیع اندازه ذرات با پراکنش لیزری، مقادیر D10، D50 و D90 را ارائه می‌کند، سطح ویژه با روش BET اندازه‌گیری میشود، ترکیب (درصد کربن، رطوبت و پوشش) با آنالیز حرارتی TGA تعیین می‌گردد و ICP خلوص و استوکیومتری عناصر را تأیید می‌نماید. این مجموعه داده‌ها برای کنترل کیفیت بچ، مقایسه تأمین‌کنندگان و انتشار نتایج علمی ضروری است.
پراش اشعه ایکس (XRD)
شناسایی فاز، خلوص کریستالی و محاسبه اندازه بلورک با رابطه شرر و تطبیق با کارت‌های مرجع ICDD.
میکروسکوپ الکترونی SEM/TEM
مشاهده مورفولوژی، توزیع ذرات و ضخامت پوشش کربنی در مقیاس میکرومتر تا نانومتر با وضوح بالا.
توزیع اندازه ذرات
اندازه‌گیری D10، D50 و D90 با پراکنش لیزری مطابق ISO 13320 برای کنترل یکنواختی هر بچ.
BET، TGA و ICP
سطح ویژه، درصد کربن و رطوبت، و استوکیومتری دقیق عناصر برای تأیید کیفیت مواد اولیه.
روش‌های مشخصهیابی و شرایط آزمون
| روش | اطلاع به‌دست‌آمده | شرایط / بازه | مرجع |
|---|---|---|---|
| XRD | فاز کریستالی و اندازه بلورک | Cu Kα؛ 2θ از ۱۰ تا ۸۰ درجه | کارت‌های ICDD-PDF |
| SEM | مورفولوژی و پوشش سطح | ولتاژ ۵ تا ۲۰ kV | تصویر ثانویه و بازگشتی |
| TEM | ساختار نانو و شبکه کریستالی | ولتاژ ۲۰۰ kV | روش پراش الکترونی |
| پراکنش لیزری | D10 / D50 / D90 | پراکنش در حلال مناسب | ISO 13320 |
| BET | سطح ویژه (m²/g) | N₂ در ۷۷ K؛ degas در ۱۲۰°C | ISO 9277 |
| TGA | درصد کربن، رطوبت و پوشش | ۲۵ تا ۸۰۰°C زیر N₂ | منحنی افت جرم |
| ICP-OES | خلوص و نسبت عناصر | هضم اسیدی نمونه | کالیبراسیون چندعنصری |
سوالات متداول درباره آنالیز و مشخصهیابی
حداقل مجموعه پیشنهادی شامل XRD برای تأیید فاز اولیویین، توزیع اندازه ذرات، درصد کربن با TGA و ارزیابی ظرفیت اولیه با ساخت سلول دکمه‌ای است؛ افزودن ICP برای تأیید استوکیومتری لیتیوم و آهن نیز توصیه میشود.
از پهنشدگی پیک در نیمبیشینه (FWHM) با استفاده از رابطه شرر و ثابت شکل حدود ۰/۹ استفاده میشود؛ این روش برای اندازههای زیر حدود ۱۰۰ نانومتر دقیق است و باید سهم اثر ابزار از پهنشدگی واقعی کسر گردد.
پراکنش لیزری میانگین آماری حجمی هزاران ذره را سریع میدهد اما ذرات چسبیده را یک ذره بزرگتر میشمارد؛ SEM جزئیات واقعی شکل و چسبندگی را نشان میدهد اما آمار آن محدود است، بنابراین هر دو روش مکمل یکدیگرند.
بله؛ مشخصهیابی بهصورت خدمت مستقل ارائه میشود. کافی است نوع آزمون، تعداد نمونه و هدف علمی را اعلام کنید تا روش، شرایط آمادهسازی و زمانبندی دقیق به شما اعلام گردد.