آنالیز SEM
خدمات میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) با بزرگنمایی تا ۳۰۰ هزار برابر و آنالیز EDS برای مورفولوژی سطح و نقشه توزیع عنصری از کیمیا گوهر.
تصویربرداری میکروسکوپی SEM و آنالیز EDS
میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) با جایگزینی نور با باریکه الکترونی، بزرگنمایی تا ۳۰۰ هزار برابر و عمق میدان بینظیر فراهم میکند؛ ساختارهایی که در میکروسکوپ نوری هرگز دیده نمیشوند، در SEM با وضوح کامل قابل بررسیاند. خدمات ما شامل تصویربرداری مورفولوژی سطح با آشکارساز الکترون ثانویه (SE)، تفکیک فازها بر پایه کنتراست عدد اتمی با الکترون برگشتی (BSE)، آنالیز عنصری نقطهای و نقشه توزیع (Mapping) با سیستم EDS و بررسی سطوح شکست قطعات صنعتی است. نمونههای غیررسانا پیش از تصویربرداری با لایه نازک طلا یا پالادیم (۵ تا ۱۰ نانومتر) پوشش داده میشوند تا از تجمع بار جلوگیری شود. تصاویر در کیفیت بالا همراه با مقیاس و اطلاعات شرایط تصویربرداری تحویل داده میشود و تفسیر کارشناسی نیز به گزارش پیوست میگردد.
مورفولوژی سطح
تصویربرداری با آشکارساز الکترون ثانویه برای جزئیات توپوگرافی، شکل و اندازه ذرات.
کنتراست فازی BSE
تفکیک فازهای دارای عدد اتمی متفاوت در آلیاژها، کانیها و کامپوزیتها با الکترون برگشتی.
آنالیز EDS
شناسایی عنصری نقطهای و نقشه توزیع عناصر از بور تا اورانیوم روی سطح نمونه با نمایش رنگی مجزا.
سطح شکست
بررسی مکانیزم شکست قطعات صنعتی و جوشها برای ریشهیابی خرابی و بهبود طراحی آینده.
مشخصات فنی میکروسکوپی SEM
| قابلیت | مقدار / محدوده | توضیح | کاربرد |
|---|---|---|---|
| بزرگنمایی | ۱۰ تا ۳۰۰ هزار برابر | پیوسته قابل تنظیم | از نمای کلی تا نانوساختار |
| قدرت تفکیک | تا حدود ۱ نانومتر | در مدل میداننشر | نانوذرات و لایههای نازک |
| آشکارساز SE | الکترون ثانویه | نمایش توپوگرافی سطح | مورفولوژی و اندازه ذرات |
| آشکارساز BSE | الکترون برگشتی | کنتراست عدد اتمی | تفکیک فاز در آلیاژ |
| آنالیز EDS | از بور (B) تا اورانیوم (U) | نقطهای، خطی و نقشه عنصری | شیمی موضعی نمونه |
| پوشش رسانا | طلا / پالادیم ۵ تا ۱۰ نانومتر | به روش اسپاترینگ | نمونههای غیررسانا |
سوالات متداول درباره آنالیز SEM
نمونههای غیررسانا مانند پلیمرها، سرامیکها و مواد بیولوژیک، الکترونها را روی سطح جمع کرده و باعث اختلال تصویر و خطوط روشن میشوند؛ به همین دلیل پیش از تصویربرداری با لایه نازک ۵ تا ۱۰ نانومتری طلا-پالادیم پوشش داده میشوند. این پوشش بسیار نازک است و جزئیات سطح را از بین نمیبرد.
EDS طیف اشعه ایکس مشخصه ساطعشده از برهمکنش باریکه الکترونی با نمونه را تحلیل میکند و نشان میدهد کدام عناصر و با چه نسبت تقریبی در نقطه هدف یا سراسر سطح حضور دارند؛ نقشه توزیع (Mapping) نیز مکان هر عنصر را با رنگهای مجزا نمایش میدهد. حد تشخیص این روش حدود ۰.۵ درصد وزنی است.
نمونه باید در محفظه خلأ پایدار باشد؛ ابعاد معمول تا حدود ۳۰ میلیمتر ارتفاع و قطر در هولدر استاندارد پذیرفته میشود و نمونههای حاوی آب، روغن یا گاز باید پیش از آنالیز خشک شوند. نمونههای مغناطیسی و بیولوژیک نیز نیازمند هماهنگی خاص پیش از ارسال هستند.
الکترونهای ثانویه (SE) از لایه بسیار سطحی نمونه خارج میشوند و بهترین جزئیات توپوگرافی و شکل را نشان میدهند؛ الکترونهای برگشتی (BSE) از عمق بیشتری میآیند و شدت آنها به عدد اتمی بستگی دارد، بنابراین نواحی دارای عناصر سنگینتر روشنتر دیده میشوند و فازها بهخوبی تفکیک میگردند.
